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界面电镜能谱分析

HITACHI S-3400N II SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM) 扫描电镜,TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE (TEM) 透射电镜,EX-250 EDS 能谱分析仪,XRD X-射线衍射仪。

分析晶体结构、微细组织、化学成分、化学键结及电子分布。包括材料科学分析中的:差排理论(Dislocation Theory); 机械性质(Mechanical Property);点缺陷;相变化;动力学研究;表面层结构;界面结构;表面位相;微区域成分分析......。

界面微结构分析仪